Näytetään tulokset 1 - 10 / 9270
tulosta / sivu
Mitä julkaisutietoja palvelu sisältää?
Julkaisun nimi
Tekijät
Julkaisukanava
Vuosi
 Julkaisujen tiedon ikoni

Role of chemical disorder on radiation-induced defect production and damage evolution in NiFeCoCr

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1016/j.jnucmat.2022.153689
Zhou, Yufan; Velisa, Gihan; San, Saro; Crespillo, Miguel L.; Fan, Zhe; Bei, Hongbin; Weber, William ...
Journal of Nuclear Materials2022 Julkaisujen tiedon ikoni

Determination of defect content and defect profile in semiconductor heterostructures

Vertaisarvioitu
DOI
10.1088/1742-6596/265/1/012004
Zubiaga, A.; Garcia, J.A.; Plazaola, F.; Zuñiga-Perez, J.; Muñoz-Sanjose, V.
Journal of Physics: Conference Series2011 Julkaisujen tiedon ikoni

Point defect balance in epitaxial GaSb

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1063/1.4894473
Segercrantz, N.; Slotte, J.; Makkonen, I.; Kujala, J.; Tuomisto, F.; Song, Y.; Wang, Shumin
Applied Physics Letters2014 Julkaisujen tiedon ikoni

Primary Radiation Defect Production in Polyethylene and Cellulose

Vertaisarvioitu
DOI
10.1021/jp309979p
Polvi, Jussi; Luukkonen, Petri; Nordlund, Kai; Jarvi, Tommi T.; Kemper, Travis W.; Sinnott, Susan B.
Journal of Physical Chemistry B2012 Julkaisujen tiedon ikoni

Unsupervised Segmentation of Defect Images

Vertaisarvioitu
Iivarinen, Jukka
-2001 Julkaisujen tiedon ikoni

Enhancement of irradiation-induced defect production in Si nanowires

Vertaisarvioitu
DOI
10.1063/1.3627234
Hoilijoki, Sanni; Holmström, Eero Kristian; Nordlund, Kai
Journal of Applied Physics2011 Julkaisujen tiedon ikoni

Defect-mediated trafficking across cell membranes

Vertaisarvioitu
DOI
10.1021/cr1000783
Gurtovenko, Andrey; Anwar, Jamshed; Vattulainen, Ilpo
Chemical Reviews2010 Julkaisujen tiedon ikoni

CDDNet: Camouflaged Defect Detection Network for Steel Surface

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1109/TIM.2023.3336452
Luo, Qiwu; Li, Ben; Su, Jiaojiao; Yang, Chunhua; Gui, Weihua; Silvén, Olli; Liu, Li
IEEE transactions on instrumentation and measurement2024 Julkaisujen tiedon ikoni

Defect formation in Quench-cooled superfluid phase transition

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1103/PhysRevLett.80.1465
Ruutu, V.M.; Eltsov, V.B.; Krusius, M.; Makhlin, Yu.G.; Plaçais, B.; Volovik, G.E.
PHYSICAL REVIEW LETTERS1998 Julkaisujen tiedon ikoni

Defect Detection of Texture Surfaces

Vertaisarvioitu
Iivarinen, Jukka
-2001

Role of chemical disorder on radiation-induced defect production and damage evolution in NiFeCoCr

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1016/j.jnucmat.2022.153689
2022

Determination of defect content and defect profile in semiconductor heterostructures

Vertaisarvioitu
DOI
10.1088/1742-6596/265/1/012004
2011

Point defect balance in epitaxial GaSb

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1063/1.4894473
2014

Primary Radiation Defect Production in Polyethylene and Cellulose

Vertaisarvioitu
DOI
10.1021/jp309979p
2012

Unsupervised Segmentation of Defect Images

Vertaisarvioitu
2001

Enhancement of irradiation-induced defect production in Si nanowires

Vertaisarvioitu
DOI
10.1063/1.3627234
2011

Defect-mediated trafficking across cell membranes

Vertaisarvioitu
DOI
10.1021/cr1000783
2010

CDDNet: Camouflaged Defect Detection Network for Steel Surface

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1109/TIM.2023.3336452
2024

Defect formation in Quench-cooled superfluid phase transition

Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1103/PhysRevLett.80.1465
1998

Defect Detection of Texture Surfaces

Vertaisarvioitu
2001